4.4  窄束条件下的测量

4.4.1 在窄射束条件下，应该按照图 2 的要求进行测量。

4.4.2 在检验物的远侧，辐射束的直径应该为 20 mm±1 mm  。

4.4.3 根据第 6.5.1 条测定均匀度时，在检验物远侧应该将窄射束限制到直径不大于 10 mm。

4.5  辐射探测器的位置

距离 W 应不小于 700 mm  。

4.5.1测定衰减比时，应测量有和没有检验物条件下的空气比释动能率 K  1和 K  0。从检验物远侧平面到辐射探测器参考点的距离b应为 50 mm±1 mm（见图 1）。

 

4.5.2  在空气比释动能率 K  e的测量中，对于累积因子的测量，从检验物的远侧到辐射探测器参考点的距离应不小于截面A平方根的 10 倍。

4.6  检验仪器

4.6.1 检验仪器的辐射探测器，在半球面上对射线入射方向的响应依赖性很小，应忽略不计。

4.6.2 辐射探测器测量管电压为 40 kV－400kV 的 X 射线时，探测器对射线能量的响应依赖性必须不超过±20％。

4.6.3 辐射探测器灵敏体积的直径和长度均应不超过 50 mm。

4.6.4 X射线高压发生装置应满足实验管电压的要求，其实验管电压的实际值不得低于规定实验管电压的 90%。

4.6.5 标准铅片的化学纯度应为 99.99％，厚度精度为±0.01 mm。

 

4.6.6  过滤条件

用于管电压在 120kV（包括 120kV）以下的 X 射线防护材料，其实验管电压为 80～120kV，总过滤为 2.5 mmAl。用于管电压在 120kV 以上的 X 射线防护材料，按最常用的管电压进行，其总过滤按表 3 的规定。